設(shè)備的工作室尺寸及溫度沖擊范圍可根據(jù)用戶需求訂制。
1.1. 工作室溫度沖擊范圍
1.2. 高溫室溫度范圍
1.3. 低溫室溫度
1.4. 溫度波動(dòng)度:
1.5. 溫 度 偏 差
1.6. 溫度恢復(fù)時(shí)間
1.7. 溫度轉(zhuǎn)換時(shí)間
-40℃~+150℃
60℃~200℃、升溫時(shí)間≤45分鐘
-10℃~-50℃、降溫時(shí)間≤50分鐘
≤±0.5℃
≤±2℃
≤5分鐘
≤10 秒
1.8 吊 籃 尺 寸
1.9 高溫室尺寸
1.10 低溫室尺寸
350×250×50(mm)(長(zhǎng)×寬×高)
500×500×400(mm)(長(zhǎng)×寬×高)
設(shè)備形式:二箱式 冷卻水溫: 28℃
箱體材質(zhì)
高低溫沖擊試驗(yàn)箱內(nèi)箱采用1.2mm優(yōu)質(zhì)不銹鋼板,外殼1.5mm冷軋板靜電噴塑
控制系統(tǒng)
采用進(jìn)口彩色觸摸屏控制器,精度:±0.1℃
制冷系統(tǒng)
采用進(jìn)口或法國(guó)“泰康”制冷機(jī)組,制冷劑進(jìn)口環(huán)保型R404A、R23
保護(hù)裝置
超溫保護(hù),缺相保護(hù),漏電保護(hù),壓縮機(jī)超壓等多重保護(hù)功能
高低溫沖擊試驗(yàn)箱執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)
GB/T2423.1-2001《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法
GB/T2423.2-2001《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》試驗(yàn)b:高溫試驗(yàn)方法
GB/T2423.22 《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》試驗(yàn)N:溫度變化試驗(yàn)方法
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高級(jí)會(huì)員
第18年